Leeb קשיות בודק סוג עט נייד קשיות בוחן צג דיגיטלי חכם Leeb Hardness Tester

2. מפואר-R&D צוות בראשות שני ודוקטורט כמה מאסטרים, כמו גם מקצועי FPGA היישום וצוות הפיתוח.

תשובה: מפעל+ מסחר (אינטגרציה),יש לנו משלנו פא ctory וכל המוצרים שלנו הם producted על ידי OURSELVE. אס.

תשובה: 1. עוצמה של מקור יצרנים, מתן חזקה קדם-מכירות ותמיכה לאחר המכירה הגנה

ש: מה היתרונות שלך לעומת ספקים אחרים?

ת: אנו מספקים חספוס פני השטח הבוחן,קשיות בודק אולטרהסוני מד עובי,קולי פגם,גלאי אלקטרומגנטי עובי קולי מד, NDT אחרים בארץ ובעולם.

3. באופן עצמאי, מחקר ופיתוח, ייצור, מכירות ושירות משולבים, עם השלמת שרשרת אספקה כולל חיישנים.

ש:באיזה ציוד אתה מספק?

ש: אתה יצרן או חברת מסחר?

מדידת כיוון תמיכה 360 מעלות (אנכית למטה, אלכסונית למטה, אופקי, אלכסוני למעלה, אנכי למעלה) טווח גילוי ( 170-960)HLD , (17.9-69.5)HRC , (19-683)על בסיס חצי פנסיון , (80-1042)HV , (30.6-102.6)HS , (13.5-101.7)HRB קשיות מערכת Leeb (HL), Brinell (HB) , רוקוול ב (HRB) , רוקוול C (HRC) , ויקרס (HV) , החוף (HS) סימן שגיאה של ± 0.5%(HLD=800) אינדיקציה הדירות 0.8%(HLD=800) גודל 148 מ "מ×30 מ" מ×30 מ " מ ספק כוח סוללת ליתיום נטענת להציג תעשייתי 128×64 גרפי דוט מטריקס OLED LCD זמן עבודה רציף כ-20 שעות עבודה בתנאי עבודה טמפרטורה − 10-50 ℃ ; טמפרטורת אחסון :- 30 ℃ -60 ℃ ; לחות יחסית ≤ 90 %;